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東莞市恒工設(shè)備有限公司
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新聞資訊
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展、環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多，被試品所遇到的環(huán)境條件也極其多樣復(fù)雜，要定出一種同樣的環(huán)境試驗(yàn)方法來滿足所有的試驗(yàn)?zāi)康氖菢O其困難的。 為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備。而要達(dá)到這一點(diǎn)，首先需要有一個統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備的尺度，即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)，為了定量地體現(xiàn)可靠性，有必要規(guī)定試驗(yàn)的環(huán)境條件和方法，制定出無論在什么地方都能用相同基準(zhǔn)（以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期，以IEC68-1，2，3為基調(diào)等效采用。 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 GB10586 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB2426.3試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法 GB2423.4試驗(yàn)Dd交變濕熱試驗(yàn)方法 GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB2423.1 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法 GB10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB2423.22試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法 GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB2423.2 試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法 基本參數(shù)檢定方法采用GB5170 GB/T5170電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法(1996修訂版明確本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗(yàn)) 應(yīng)注意本公司產(chǎn)品是試驗(yàn)箱而不是試驗(yàn)方法,所以說本公司產(chǎn)品符合GB10586，GB10589，GB11158等試驗(yàn)箱技術(shù)條件，可以用來做GB2423.1,2,3,4或GB2423.22中Nb的試驗(yàn).
相對濕度：不大于85%RH； 大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa（1350m）以下）； 周圍無強(qiáng)烈振動‘ 無陽光直射，無熱源直接輻射；周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)制流動時(shí)，不可直接吹到箱體上； 周圍無強(qiáng)烈電磁場； 周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)；
頻率：50±0.5Hz;
水溫：不高于30℃； 水壓：0.1~0.3Mpa; 加濕用水當(dāng)用水與空氣直接接觸的方法加濕空氣時(shí)，水的電阻率不應(yīng)低于500Ωm
試驗(yàn)負(fù)載的總質(zhì)量按每立方米工作室容放置50~80Kg試驗(yàn)樣品計(jì)算； 試驗(yàn)負(fù)載的總體積應(yīng)不大于工作室容積的1/5； 在垂直于主導(dǎo)風(fēng)向的任意截面上，試驗(yàn)負(fù)載面積之和不大于該處工作室截面積的1/3； 三、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（試驗(yàn)箱技術(shù)條件） 1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)有九項(xiàng) GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 GB10588-89 長霉試驗(yàn)箱子 技術(shù)條件 GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 GB10592-89 高、代溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題 A、適用范圍 在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家，對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。 B、適應(yīng)性 按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗(yàn)設(shè)備的要求，按其檢驗(yàn)要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。 C、操作性 設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí)，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠應(yīng)用較多。 D、修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處 九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)、工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和要求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)已成為必須，現(xiàn)正在修訂。 3、GB10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 按使用性能分Ⅰ、Ⅱ兩類，其性能指標(biāo)見下列產(chǎn)品性能表。
2）GB2423.4的圖2中，降溫階段的相對濕度分為，不小于95%和不小于85%兩種。 4、GB10589低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
A、溫度等級及偏差
在滿載條件下，每5min的平均升溫和降溫速率等級為：不大于1℃/min、1±0.2℃/ min、3 ±0.6℃/ min或5±1℃/ min
（1）標(biāo)稱值 當(dāng)檢定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，按試驗(yàn)方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值。 （2）試驗(yàn)設(shè)備容積 試驗(yàn)箱（室）內(nèi)壁所限定空間的實(shí)際容積，用m3表示。。 （3）工作空間 試驗(yàn)箱（室）中能將規(guī)定的試驗(yàn)條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。 （4）指示點(diǎn) 試驗(yàn)箱（室）工作空間狀態(tài)的點(diǎn)，一般取工作空間幾何中心點(diǎn)，也可根據(jù)具體情況選擇其它合適的點(diǎn)。 （5）試驗(yàn)箱（室）穩(wěn)定狀態(tài) 試驗(yàn)箱（室）指示點(diǎn)的自身變化量達(dá)到設(shè)備本身性能指標(biāo)要求時(shí)的狀態(tài)。 （6）溫度波動度 試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)溫度隨時(shí)間的變化量。 計(jì)算方法：試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間指示點(diǎn)溫度在30min內(nèi)（每2min測試一次）每次測試中實(shí)測最高溫度與最低溫度之差的算術(shù)平均值，計(jì)算化工如下：
tfmin——指示點(diǎn)在30min內(nèi)的實(shí)測最低溫度，℃。 式中： 溫度均勻度，℃； 指示點(diǎn)30min內(nèi)的實(shí)測最高溫度，℃； 指示30min內(nèi)的實(shí)測最低溫度，℃。 （7）溫度均勻度 試驗(yàn)箱（室）穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間在某一瞬時(shí)各測試點(diǎn)溫度之間的差值。 計(jì)算方法：試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測試點(diǎn)在30min內(nèi)（每20min測試一次）每次測試中實(shí)測最高溫度與最低溫度之差的算術(shù)平均值，計(jì)算公式如下： △Tu=[Σ(Tjmax-Tjmin)]/15 式中：△Tu——溫度均勻度，℃； Tjmax——各測試點(diǎn)在第j次測試中的實(shí)測最高溫度，℃； Tjmin——各測試點(diǎn)在第j次測試中的實(shí)測最高溫度，℃。 （8）溫度偏差 試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測試點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測最高溫度（Tmax）和最低溫度（Tmin）與標(biāo)稱溫度（TN）的上下偏差，計(jì)算公式如下： 上偏差： △Tmax=Tmax-TN 下偏差：△Tmin=Tmin-TN （9）相對濕度偏差 試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作窨各測試點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)的實(shí)測最高相對濕度（Hmax）和最低相對濕度（Hmin）與標(biāo)稱相對濕度（HN）的上下偏差，計(jì)算公式： 上偏差：△Hmax=Hmax-HN 下偏差：△Hmin=Hmin-HN （10）溫度變化速率 試驗(yàn)箱（室）在規(guī)定的時(shí)間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi)，工作空間指示連續(xù)上升或連續(xù)下降時(shí)單位時(shí)間的變化量，用℃/min表示。
GB/T5170.5——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.8——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.9——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.10——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.11——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
(1)根據(jù)試驗(yàn)設(shè)備容積大小,將工作空間分為上、中、下三層，將一定數(shù)量的溫度、相對濕度和風(fēng)速傳感器放在其中規(guī)定的位置上，傳感器應(yīng)避免冷熱源的直接輻射。 溫度測量點(diǎn)用英文字母O、A、B，C，D，E，F(xiàn)，G，H，J，K，L，M，N，U表示。 相對濕度測量點(diǎn)為一個，用字母Oh表示。 風(fēng)速測量點(diǎn)與溫度測量點(diǎn)的數(shù)量與布放位置完全相同。 測量O和Oh為設(shè)備工作空間的幾何中心點(diǎn)，其他各測量點(diǎn)的位置與設(shè)備內(nèi)壁的距離為工作室各自邊長的1/10。（遇有風(fēng)道時(shí)，是指與送風(fēng)口的距離），但最大距離不能大于500mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時(shí)，下層測量點(diǎn)可放在樣品架或樣品車上方10 mm處。 （2）設(shè)備容積小于或等于2m3時(shí)，溫度測量點(diǎn)9個，相對濕度測量點(diǎn)為1個，布放位置如下圖所示： 上層 中層 下層
門 門 門 （3）設(shè)備容積大于2m3時(shí)，溫度測量點(diǎn)為15個，相對濕度測量點(diǎn)為1個，布放位置如下圖所示：
門 門 門 （4）當(dāng)試驗(yàn)設(shè)備容積小于0.05 m3或大于50 m3時(shí),可適當(dāng)減少增加溫度測量點(diǎn). (5)根據(jù)試驗(yàn)和檢定的需要,可在設(shè)備工作空間增加對疑點(diǎn)的測量. (6)對于其他形狀的試驗(yàn)設(shè)備,測量點(diǎn)數(shù)量和位置可參照上述規(guī)定執(zhí)行. B、5170.5濕熱試驗(yàn)設(shè)備測量數(shù)量及位置 （1）在被試設(shè)備工作室內(nèi)定出上、中、下三個水平層面（簡稱上、中、下三層），上層與工作室頂面的距離是工作室高度的1/10，中層通過工作室?guī)缀沃行狞c(diǎn)O，下層在底層樣品架上方10mm處。 （2）測量點(diǎn)分別位于上、中、下三層，如圖1和圖2。 溫度測量點(diǎn)用英文字母O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示。 相對濕度測量點(diǎn)用字母Oh、Dh、Hh、Lh表示。 風(fēng)速測量點(diǎn)與溫度測量點(diǎn)的數(shù)量與布放位置完全相同。 （3）工作室容積不大于2m3時(shí)，溫度測量點(diǎn)為9個，相對濕度測量點(diǎn)為3個，位置如下圖： 上層 中層 下層
門 門 門 測量點(diǎn)O、Oh位于工作空間的幾何中心點(diǎn)，其他各測量點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10，但不小于50 mm。 （4）工作室容積大于2m3時(shí)，溫度測量點(diǎn)為15個，相對濕度測量點(diǎn)為4個，位置如圖：
門 門 門 測量點(diǎn)E、O、Oh、U分別位于工作空間上、中、下層的幾何中心點(diǎn)，其他各測量點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10，但不小于50 mm。 （5）若測出的工作空間的基本參數(shù)不符合GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.9、GB/T2423.16的要求且與測量點(diǎn)的位置有關(guān)時(shí)，可適當(dāng)放寬6.3和6.4規(guī)定的1/10的距離，但應(yīng)在檢定報(bào)告中予以記載。 （6）當(dāng)工作容積大于50 m3時(shí)，溫度測量點(diǎn)和相對濕度的數(shù)可適當(dāng)增加。
在六頂方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定頂目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點(diǎn)數(shù)量、遠(yuǎn)見卓識點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。 B、適應(yīng)性 按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。 C、操作性 本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗(yàn)設(shè)備和產(chǎn)廠應(yīng)用為少。 5、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點(diǎn) A、各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。 B、對于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用。 C、檢定條件 由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)下一致。
五、GB2423.1，2，3，4及22Nb等試驗(yàn)方法的考核內(nèi)容（環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程） 1、GB2423.1 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法 僅限于用來考核或確定電工，電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件貯存或使用的適應(yīng)性而不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。 試驗(yàn)溫度+5℃~-65℃； 允許偏差范圍±3℃； 持續(xù)時(shí)間2，16，72，96h; 2、GB2423.2 試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法 僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存或使用的適應(yīng)性而不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。 試驗(yàn)溫度 +30℃～＋200℃； 允許偏差 ±2℃； 持續(xù)時(shí)間 2，16，72。96h； 3、GB2423.3 試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法 適用于確定電工、電子產(chǎn)品元件材料等在恒定濕條件下使用貯存的適應(yīng)性。 試驗(yàn)條件 40℃±2℃；93%RH3+2% 持續(xù)時(shí)間 2，4，10，21，56d； 4、GB2423.4 試驗(yàn)Db交變濕熱試驗(yàn)方法 適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適用性。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)從以下（）選取嚴(yán)酷等級。 A、高溫溫度：40℃ 試驗(yàn)周期：2，6，12，21，56d; B、高溫溫度：50℃ 試驗(yàn)周期：1，2，6d。  
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